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德國EPK MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀

  • 型號:MiniTest3100
  • 品牌:德國EPK
  • 產品簡述:

    德國EPK MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀用于測量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):

    ? 鋼鐵基體上的非磁性覆層
    ? 有色金屬上的絕緣覆層
    ? 絕緣基體上的有色金屬覆層

  • 產品名稱:德國EPK MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀

  • 產品型號:德國EPK MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀
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電話:400-888-5016

傳真:021-33250912
地址:上海市嘉定區平城路1055號創新創業大廈17樓

Email:yp1718@163.com 

工作時間:

周一至周五 9:00- 17:00

非工作時間請聯系:13641663629


 

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德國EPK MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀

型號:MiniTest3100

品牌:德國EPK

產品詳情

德國EPK MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀用于測量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):

? 鋼鐵基體上的非磁性覆層
? 有色金屬上的絕緣覆層
? 絕緣基體上的有色金屬覆層

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德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;
- 所有型號均可配所有探頭
- 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機
- 可使用一片或二片標準箔校準
主機功能
型號 1100 2100 3100 4100
MINITEST 存儲的數據量
應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數) 1 1 10 99
每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計,可設寬容度極限值) - 1 10 99
可用各自的日期和時間標識特性的組數 - 1 500 500
數據總量 1 10000 10000 10000
MINITEST統計計算功能
讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar -
讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - -
組統計值六種x,s,n,max,min,kvar - -
組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - -
存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據 - - -
分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值 - -
顯示并打印測量值、打印的日期和時間 -
其他功能
透過涂層進行校準(CTC) -
在粗糙表面上作平均零校準
利用計算機進行基礎校準
補償一個常數(Offset) - -
外設的讀值傳輸存儲功能 -
保護并鎖定校準設置
更換電池是存儲數值
設置極限值 - -
公英制轉換
連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別最大最小值 - -
連續測量模式中測量穩定后顯示讀數 - -
浮點和定點方式數據傳送
組內單值延遲顯示 -
連續測量模式中顯示最小值

可選探頭參數
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇最適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
探頭 量程 低端
分辨率
誤差 最小曲率
半徑(凸/凹)
最小測量
區域直徑
最小基
體厚度
探頭尺寸
F05 0-500μm 0.1μm ±(1%+0.7μm) 1/5mm 3mm 0.2mm φ15x62mm
F1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x170mm
F3 0-3000μm 0.2μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
F10 0-10mm 5μm ±(1%+10μm) 5/16mm 20mm 1mm φ25x46mm
F20 0-20mm 10μm ±(1%+10μm) 10/30mm 40mm 2mm φ40x66mm
F50 0-50mm 10μm ±(3%+50μm) 50/200mm 300mm 2mm φ45x70mm
N02 0-200μm 0.1μm ±(1%+0.5μm) 1/10mm 2mm 50μm φ16x70mm
N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±(1%+1μm) 2.5mm 2mm 100μm φ15x62mm
N1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 2mm 50μm φ15x62mm
N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 平面/10mm 5mm 50μm φ13x170mm
N10 0-10mm 10μm ±(1%+25μm) 25/100mm 50mm 50μm φ60x50mm
N20 0-20mm 10μm ±(1%+50μm) 25/100mm 70mm 50μm φ65x75mm
N100 0-100mm 100μm ±(1%+0.3mm) 100mm/平面 200mm 50μm φ126x155mm
CN02 10-200μm 0.2μm ±(1%+1μm) 平面 7mm 無限制 φ17x80mm
FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm F:0.5mm
N:50μm
φ15x62mm
FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 平面 30mm F:0.5mm
N:50μm
φ21x89mm
FN2 0-2000μm 0.2μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm F:0.5mm
N:50μm
φ15x62mm
注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

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